超高精度 MProbe有機薄膜厚度測量儀
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產品名稱: 超高精度 MProbe有機薄膜厚度測量儀
產品型號:
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簡單介紹
超高精度 MProbe有機薄膜厚度測量儀基于光譜反射原理， 即在一定的波長光波下，通過追蹤被帶有層狀結構的基片反射和/或投射的光束來實現測量膜層厚度。測量薄膜厚度范圍可達1nm -1000 um。一般20ms可以得到測量結果。而且超高精度MProbe薄膜測厚儀尺寸非常小巧，8″x 4″x10″。超高精度 超高精度 MProbe有機薄膜厚度測量儀非常適合實驗室，產品質量檢測，研發使用。
超高精度 MProbe有機薄膜厚度測量儀
的詳細介紹
超高精度 MProbe有機薄膜厚度測量儀特點：
l 超高精度 MProbe有機薄膜厚度測量儀應用廣泛：(a) 太陽能光伏薄膜領域-aSi, TCO, CIGS, CdS, CdTe；(b) LCD, FPD領域-ITO, Cell Gaps, Polyamides；(c) 光學薄膜領域-介質濾波器，加硬膜，減反射膜；(d) 半導體和電解質領域-Oxides, Nitrides, OLED stack
l 超高精度 MProbe有機薄膜厚度測量儀即時測量和數據分析
l 超高精度 MProbe有機薄膜厚度測量儀強大的數據庫：已經有了500多種常用的材料參數，新的材料也容易添加，并能根據需要添加相應的材料特性參數-Cauchy, Tauc-Lorentz, Cody-Lorentz, EMA等
l 超高精度 MProbe有機薄膜厚度測量儀連接方便，使用自如：不管實在實驗室獨立使用，還是在研發或者是工廠連續生產中不間斷在線持續監測膜層厚度，都能在10分鐘內完成安裝，與電腦或是網絡的連接十分方便
l 超高精度 MProbe有機薄膜厚度測量儀測量數據完整：除了膜層的厚度，還能測量光學參數和表面平整度
l 超高精度 MProbe有機薄膜厚度測量儀使用人性化，功能強大：一鍵式操作即可完成膜層厚度測量和分析；強大的工具-仿真功能，內部自我糾正，多樣品測量，動態監測和產品批量監測.
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產品尺寸
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8″x 4″x10″
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測量精度
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<0.01nm or 0.01%
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穩定性
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<0.02nm or 0.03%
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光斑尺寸
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2mm to 3um
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樣品大小
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可以小至1 mm
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測量范圍
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1 nm - 1000 um
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波長范圍
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200nm -8000nm
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